WEKO3
アイテム
電子機器の構造信頼性評価における大規模接触解析手法に関する研究
https://doi.org/10.15083/00073969
https://doi.org/10.15083/000739693347903d-d005-4c4a-b354-79b17f20bc8a
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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A32965_summary.pdf (5.4 MB)
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A32965_abstract.pdf (201.0 kB)
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A32965_review.pdf (172.8 kB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2017-10-23 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 電子機器の構造信頼性評価における大規模接触解析手法に関する研究 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
| タイプ | thesis | |||||
| ID登録 | ||||||
| ID登録 | 10.15083/00073969 | |||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | Large scale contact analysis method for evaluating structural reliability of electronic devices | |||||
| 著者 |
稲垣, 和久
× 稲垣, 和久 |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 145245 | |||||
| 姓名 | Inagaki, Kazuhisa | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 著者所属 | 新領域創成科学研究科人間環境学専攻 | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 学位の種別: 課程博士 | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 審査委員会委員 : （主査）東京大学教授 奥田 洋司, 東京大学准教授 森田 剛, 東京大学講師 橋本 学, 東京大学教授 中島 健吾, 東京大学特任准教授 鷲尾 巧 | |||||
| 書誌情報 | 発行日 2016-03-24 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 値 | none | |||||
| 学位名 | ||||||
| 学位名 | 博士(環境学) | |||||
| 学位 | ||||||
| 値 | doctoral | |||||
| 学位授与機関 | ||||||
| 学位授与機関名 | University of Tokyo(東京大学) | |||||
| 研究科・専攻 | ||||||
| Department of Socio-Cultural Environmental Studies, Graduate School of Frontier Sciences (新領域創成科学研究科人間環境学専攻) | ||||||
| 学位授与年月日 | ||||||
| 学位授与年月日 | 2016-03-24 | |||||
| 学位授与番号 | ||||||
| 学位授与番号 | 12601甲第32965号 | |||||
| 学位記番号 | ||||||
| 博創域第1258号 | ||||||
