WEKO3
アイテム
{"_buckets": {"deposit": "ea78e160-71f1-4001-b60a-c0fd4b41f988"}, "_deposit": {"id": "49710", "owners": [], "pid": {"revision_id": 0, "type": "depid", "value": "49710"}, "status": "published"}, "_oai": {"id": "oai:repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp:00049710", "sets": ["7831", "7833"]}, "item_4_alternative_title_1": {"attribute_name": "その他のタイトル", "attribute_value_mlt": [{"subitem_alternative_title": "Application of Nanomachining to Scanning Probe Microscopy"}]}, "item_4_biblio_info_7": {"attribute_name": "書誌情報", "attribute_value_mlt": [{"bibliographicIssueDates": {"bibliographicIssueDate": "2002", "bibliographicIssueDateType": "Issued"}, "bibliographicIssueNumber": "2", "bibliographicPageEnd": "155", "bibliographicPageStart": "151", "bibliographicVolumeNumber": "54", "bibliographic_titles": [{"bibliographic_title": "生産研究"}]}]}, "item_4_description_6": {"attribute_name": "内容記述", "attribute_value_mlt": [{"subitem_description": "特集 マイクロ・ナノメカトロニクス", "subitem_description_type": "Other"}]}, "item_4_full_name_3": {"attribute_name": "著者別名", "attribute_value_mlt": [{"nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "147471", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}], "names": [{"name": "Kawakatsu, Hideki"}]}]}, "item_4_publisher_20": {"attribute_name": "出版者", "attribute_value_mlt": [{"subitem_publisher": "東京大学生産技術研究所 "}]}, "item_4_relation_11": {"attribute_name": "DOI", "attribute_value_mlt": [{"subitem_relation_type_id": {"subitem_relation_type_id_text": "info:doi/10.11188/seisankenkyu.54.151", "subitem_relation_type_select": "DOI"}}]}, "item_4_source_id_10": {"attribute_name": "書誌レコードID", "attribute_value_mlt": [{"subitem_source_identifier": "AN00127075 ", "subitem_source_identifier_type": "NCID"}]}, "item_4_source_id_8": {"attribute_name": "ISSN", "attribute_value_mlt": [{"subitem_source_identifier": "18812058", "subitem_source_identifier_type": "ISSN"}, {"subitem_source_identifier": "0037105X ", "subitem_source_identifier_type": "ISSN"}]}, "item_4_text_21": {"attribute_name": "出版者別名", "attribute_value_mlt": [{"subitem_text_value": "Institute of Industrial Science, the University of Tokyo"}]}, "item_4_text_4": {"attribute_name": "著者所属", "attribute_value_mlt": [{"subitem_text_value": "東京大学生産技術研究所マイクロメカトロニクス国際研究センター"}]}, "item_creator": {"attribute_name": "著者", "attribute_type": "creator", "attribute_value_mlt": [{"creatorNames": [{"creatorName": "川勝, 英樹"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "147470", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}]}, "item_files": {"attribute_name": "ファイル情報", "attribute_type": "file", "attribute_value_mlt": [{"accessrole": "open_date", "date": [{"dateType": "Available", "dateValue": "2018-07-06"}], "displaytype": "detail", "download_preview_message": "", "file_order": 0, "filename": "sk054002008.pdf", "filesize": [{"value": "1.0 MB"}], "format": "application/pdf", "future_date_message": "", "is_thumbnail": false, "licensetype": "license_free", "mimetype": "application/pdf", "size": 1000000.0, "url": {"label": "sk054002008.pdf", "url": "https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/record/49710/files/sk054002008.pdf"}, "version_id": "81f61507-284a-495b-944d-adefa03f011a"}]}, "item_language": {"attribute_name": "言語", "attribute_value_mlt": [{"subitem_language": "jpn"}]}, "item_resource_type": {"attribute_name": "資源タイプ", "attribute_value_mlt": [{"resourcetype": "departmental bulletin paper", "resourceuri": "http://purl.org/coar/resource_type/c_6501"}]}, "item_title": "研究解説 : プローブ顕微法へのナノマシーニングの応用 ", "item_titles": {"attribute_name": "タイトル", "attribute_value_mlt": [{"subitem_title": "研究解説 : プローブ顕微法へのナノマシーニングの応用 "}]}, "item_type_id": "4", "owner": "1", "path": ["7831", "7833"], "permalink_uri": "http://hdl.handle.net/2261/00074831", "pubdate": {"attribute_name": "公開日", "attribute_value": "2018-07-06"}, "publish_date": "2018-07-06", "publish_status": "0", "recid": "49710", "relation": {}, "relation_version_is_last": true, "title": ["研究解説 : プローブ顕微法へのナノマシーニングの応用 "], "weko_shared_id": null}
研究解説 : プローブ顕微法へのナノマシーニングの応用
http://hdl.handle.net/2261/00074831
http://hdl.handle.net/2261/00074831ff90fa8d-c017-483d-8ced-bb6c32d14f15
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
---|---|---|
sk054002008.pdf (1.0 MB)
|
|
Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
公開日 | 2018-07-06 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 研究解説 : プローブ顕微法へのナノマシーニングの応用 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
タイプ | departmental bulletin paper | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | Application of Nanomachining to Scanning Probe Microscopy | |||||
著者 |
川勝, 英樹
× 川勝, 英樹 |
|||||
著者別名 | ||||||
識別子 | 147471 | |||||
識別子Scheme | WEKO | |||||
姓名 | Kawakatsu, Hideki | |||||
著者所属 | ||||||
著者所属 | 東京大学生産技術研究所マイクロメカトロニクス国際研究センター | |||||
内容記述 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 特集 マイクロ・ナノメカトロニクス | |||||
書誌情報 |
生産研究 巻 54, 号 2, p. 151-155, 発行日 2002 |
|||||
ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
収録物識別子 | 18812058 | |||||
ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
収録物識別子 | 0037105X | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AN00127075 | |||||
DOI | ||||||
識別子タイプ | DOI | |||||
関連識別子 | info:doi/10.11188/seisankenkyu.54.151 | |||||
出版者 | ||||||
出版者 | 東京大学生産技術研究所 | |||||
出版者別名 | ||||||
Institute of Industrial Science, the University of Tokyo |