WEKO3
アイテム
Study of Network Rigidity Coordination of Dielectric Thin Films for Scalable and Reliable Ge MOS Device
https://doi.org/10.15083/00073054
https://doi.org/10.15083/0007305464372196-a6c0-4958-b890-8794c9c9627c
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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A32152_summary.pdf (3.4 MB)
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A32152_abstract.pdf (73.4 kB)
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A32152_review.pdf (182.8 kB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2017-10-20 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Study of Network Rigidity Coordination of Dielectric Thin Films for Scalable and Reliable Ge MOS Device | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
| タイプ | thesis | |||||
| ID登録 | ||||||
| ID登録 | 10.15083/00073054 | |||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | 高信頼性微細GeMOSデバイスの実現に向けた誘電体薄膜中のネットワーク強化に関する研究 | |||||
| 著者 |
Lu, Cimang
× Lu, Cimang |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 143432 | |||||
| 姓名 | ル, ツーマン | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 著者所属 | 工学系研究科マテリアル工学専攻 | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 学位の種別: 課程博士 | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 審査委員会委員 : （主査）東京大学教授 鳥海 明, 東京大学教授 香川 豊, 東京大学教授 井上 博之, 東京大学准教授 長汐 晃輔, 東京大学教授 高木 信一 | |||||
| 書誌情報 | 発行日 2015-09-25 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 値 | none | |||||
| 学位名 | ||||||
| 学位名 | 博士(工学) | |||||
| 学位 | ||||||
| 値 | doctoral | |||||
| 学位授与機関 | ||||||
| 学位授与機関名 | University of Tokyo(東京大学) | |||||
| 研究科・専攻 | ||||||
| Department of Materials Engineering, Graduate School of Engineering (工学系研究科マテリアル工学専攻) | ||||||
| 学位授与年月日 | ||||||
| 学位授与年月日 | 2015-09-25 | |||||
| 学位授与番号 | ||||||
| 学位授与番号 | 12601甲第32152号 | |||||
| 学位記番号 | ||||||
| 博工第8690号 | ||||||
